La tecnología JTAG / Boundary Scan nos permite realizar pruebas de funcionamiento sobre nuestro sistema. Es el mejor procedimiento de prueba que existe para detectar fallos en circuitos electrónicos.
Esta tecnología nos permite mejorar la calidad en el desarrollo de dispositivos, además, nos permite realizar pruebas sobre circuitos integrados cuyas señales son totalmente inaccesibles, tales como: BGA, COB y QFP.
El empleo de JTAG nos permite realizar pruebas sobre dispositivos, antes incluso de llegar a la fase de test funcional del sistema. Como resultado se obtiene una optimización de costes para el cliente durante la fase de producción en serie.
MPC Ingeniería dispone de los recursos y software necesarios para el desarrollo a full-scale de aplicaciones para pruebas mediante la tecnología JTAG. Este hecho garantiza que nuestros clientes puedan contar con la máxima cobertura ante posibles fallos, para todos los circuitos digitales incorporados en su dispositivo electrónico.
Si necesita servicios de desarrollo de tecnología JTAG, contacte con nosotros. Estaremos encantados de responder a sus preguntas.